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表面科学
  • 日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000
    产品介绍: NX9000可以自动重复进行FIB制备截面和扫描电镜观察,能够获得一系列的截面图像,从而实现特定显微切片的三维结构分析。NX9000中的SEM镜筒和FIB镜筒呈正交结构,而不是常见的对角构
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  • 日立新型双束系统NX2000
    产品介绍: NX2000新型双束系统(超高精密聚焦离子束FIB和高分辨场发射电镜FE-SEM),具有高效率的样品制备能力、高精度纳米微加工能力和高分辨图像观察能力。新的低损伤加工技术可以很好的满足感光
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  • 日立新型FIB系统MI4050
    产品介绍: MI4050是高效率的聚焦离子束设备,它使用了全新的电子光学系统,具有世界领先的SIM图像分辨率,并且TEM样品制备效果优异。MI4050广泛用于截面观察、微电路修复、纳米图像制备和纳米沉
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