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日立冷场发射扫描电镜应用技术研讨会成功举办

  2016年9月22日,“日立冷场发射扫描电镜最新应用技术研讨会”在北京文津国际酒店召开。此次会议由天美(中国)科学仪器有限公司、日立高新技术公司主办,布鲁克科技有限公司协办,中科院国家纳米科学中心支持。本次会议共有50余名国内外电镜专家参加并互相交流。

  日立高新北京分公司总经理加藤博司先生首先上台并致辞,欢迎来自全国各地的电镜专家参加本次应用技术研讨会。
  天美公司副总裁赵薇女士随后致辞并回顾了天美公司的发展历程,简述现阶段的发展状况,并展望了未来的使命。天美将致力于制造出中国最好的科学仪器,同时把最先进的科学仪器和技术引入中国,立足中国成为世界一流的专业科学仪器供应商。
  中科院国家纳米科学技术中心发展部常务副主任范伟民教授简短致辞,简单介绍了中心现在的情况,希望能跟日立和天美公司继续合作,做出更多的科研成果。
  日立高新电镜应用专家罗琴女士发表了题为“日立高端冷场扫描电镜SU8200介绍及应用”的报告,详细介绍了冷场扫描电镜SU8200的特点和丰富的应用。SU8200采用新型冷场电子枪,可在实现超高分辨率下观察的同时,以稳定的束流满足长时间下的分析需求。SU8200标配了三个探测器,配置能量过滤器可检测极其浅层的表面成分信息。
  天美公司电镜市场部经理高敞先生在会上介绍了日立离子研磨系统IM4000。IM4000使用氩离子对样品进行平面和截面研磨,以观察样品原始内部结构,且具有无应力、无污染、高效率的特点。
  日立高新应用专家工程师席小宁先生对日立原子力AFM5500M进行了介绍。该产品具有参数自动调整功能、探针自动更换功能,无需人工调整,提高了自动化程度;高精度水平扫描器提高了测定精度;此外该产品还与日立高新的扫描电镜通过共享坐标的方式,实现了观察同一样品上相同位置功能,方便用户使用不同仪器操作。
  布鲁克公司应用专家王慧敏女士为大家介绍了布鲁克平插能谱仪对低电压低束流能谱分析的解决方案。FlatQUAD平插式能谱仪跟传统的斜插式能谱仪不同,该能谱仪将探测器水平放置,增大信号采集角度,在保留高能量分辨率的同时使低电压下定性定量更加准确,在分析不导电样品,敏感样品和超薄样品时更加适合。
  最后与会专家共同参观了中科院国家纳米科学中心的日立SU8220扫描电镜,日立高新电镜应用专家罗琴女士为大家进行现场讲解。
 
  同时,还举行了中科院国家纳米科学技术中心日立场发射扫描电镜SU8220示范实验室挂牌仪式。

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